2024-03-15
技术需求简介： 基于40nm CMOS工艺制备了一款300GHz太赫兹探测器芯片，该芯片集成了太赫兹片上天线和放大器，在太赫兹辐射源的照射下，可有效的实现太赫兹信号探测。可应用于对非极性材料的无损探测，如航空航天材料的缺陷检测，工业缺陷检测等。 联系人：范老师
基于40nm CMOS工艺制备了一款300GHz太赫兹探测器芯片，该芯片集成了太赫兹片上天线和放大器，在太赫兹辐射源的照射下，可有效的实现太赫兹信号探测。可应用于对非极性材料的无损探测，如航空航天材料的缺陷检测，工业缺陷检测等。