S-0008宇航级抗辐射加固芯片

技术需求简介：

       1、 重点描述该成果可解决的问题、先进性及主要技术指标、配套条件：

       可解决的问题：

       由于工艺尺寸不断降低，工艺波动、电压波动、温度波动、老化波动对于电路加固性能的影响不断加剧。工艺（Process）波动、电压（Voltage）波动、温度（Temperature）波动、老化（Aging）波动统称为PVTA波动。设计容忍PVTA波动的单粒子加固单元。

       先进性：

       黄正峰教授与德国帕德博恩大学Sybille Hellebrand教授紧密合作，在Journal of Electronic Testing上合作发表了研究成果，共同开发了单粒子瞬态故障注入工具。特别是在容忍软错误的加固锁存器设计方面，黄正峰教授取得了原创性的研究成果，已在本领域高水平国际会议（DATE 2013、DATE 2014、ATS 2014、ATS 2016、VTS 2017、ATS 2018、VTS 2019、ISCAS 2020）、本领域的高水平学术期刊 （IEEE Transactions on Computers、IEEE Transactions on Circuits and Systems I、IEEE Transactions on Nuclear Science、IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems、Microelectronics Reliability、Journal of Electronic Testing、Electronics Letters）发表高水平学术论文，熟练掌握了一系列系统有效的抗辐射加固设计方法，取得了一系列高水平学术成果。

       主要技术指标：

       能够100%容忍单粒子单点翻转，容忍单粒子双点翻转的比例不低于90%。

       配套条件：

       该项目的实施主要依托合肥工业大学微电子学院，拥有高性能服务器SUN V880、磁盘阵列FUJISTU M100、数字示波器MSO-X3034A、频谱分析仪FSL3、脉冲发生器Agilent 81110A、FPGA开发套件Virtex-V LX330T、恒温恒湿箱BE-TH-80M8、智能晶体管综合参数测试仪BJ2923、半导体测试系统Keithley4200等。

        2、 应用范围及应用案例：

       应用范围：在航天电子、汽车电子、医疗电子等安全关键领域的高可靠长寿命的芯片。

       应用案例：设计的加固单元已经成功应用在合肥艾创微电子科技有限公司的产品中。双方成功合作，获批了安徽省重点研究与开发计划高新领域项目“应用于空天信息的专用高精度高压多通道模拟前端芯片的研发与产业化”（202304a05020003），2023~2025，项目经费：200万。

联系人：范老师