2024-03-15
技术需求简介：
重点描述该成果可解决的问题、先进性及主要技术指标、配套条件； 1、可解决的问题、 该成果面向芯片表面微波磁场测量要求，提出扫描式和成像式两种测量新方 法，研制了锥形光纤亚微米级金刚石NV 色心探头和芯片表面微波磁场高分辨高 速成像系统，实现了芯片表面微波磁场高分辨测量，对提高芯片设计和测试能力 具有重要意义。尤其锥形光纤亚微米级金刚石NV 色心探头属于国 际首创，获得 院士专家的高度评价。 2、主要技术指标 （1)光纤金刚石量子探头技术 （2)微弱信号处理技术 （3)宽频带量子能级调谐技术 应用范围及应用案例：芯片测试、电磁兼容测试、芯片失效分析、量子计量、科研级需求包括温度和磁场的高分辨 精密测量。
联系人：范老师