S-0001集成电路芯片电参数和老化测试

技术需求简介：

      依据国、军标，依托国产主流测试机，开发了190多个品种集成电路芯片测试适配器和测试程序，包括模拟电路芯片和数字电路芯片的测试（Final test），主要是电参数和老化测试。与第三方测试机构有过合作检验成果。拥有合作专利和测试软件著作权登记。

部分芯片测试适配器(图一）

（图一）

部分芯片测试老化板（图二）

（图二）

联系人：范老师