R-0058 大规模集成电路老炼测试插座开发

技术需求简介：

重点描述企业需要解决的问题及主要技术指标、配套条件：

一、需解决的主要技术问题：

需求内容：随着国家重点装备的发展和通讯设备、计算机、手机的发展需求，对多引线、细节距的IC应用越来越多，为提高IC上机后的高可靠性，必须要有一种专用老炼测试插座作为载体，对IC进行在线老化测试筛选。 技术指标： 

1.解决≤0.5mm节距的产品设计、模具设计与制造难题； 

2.解决≤0.5mm解决的成型工艺问题；

3.测试老炼条件：-55℃～175℃； 

4.测试耐电压500V DC； 

5.测试电流：1A～50A。

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联系人：范老师